Diffractometer
Un Diffractometer (entrée principale de : dif·frac·tom·e·prononciation de ter : Di-" ; fonction de tä-m&-t&r de frak- ': nom) est un instrument de mesure pour analyser la structure habituellement d'une substance cristalline du du dispersant le modèle de produit quand un faisceau du rayonnement ou des particules (comme rayons X ou neutrons) agit l'un sur l'autre avec lui.
En principe
Puisque c'est les électrons relativement faciles à utiliser ou les neutrons ayant les longueurs d'onde plus petites qu'un mètre nano , des électrons et les neutrons peuvent être employés pour étudier la structure cristalline en quelque sorte très semblable à la diffraction des rayons X. Les électrons ne pénètrent pas aussi profondément dans la matière que des rayons X, par conséquent la diffraction d'électrons indique la structure près de la surface ; les neutrons pénètrent facilement et ont un avantage qu'ils possèdent un moment magnétique intrinsèque qui les fait agir l'un sur l'autre différemment avec des atomes ayant différents alignements de leurs moments magnétiques.
Un diffractometer typique se compose d'une source de rayonnement, d'un monochromateur pour choisir la longueur d'onde, des fentes pour ajuster la forme du faisceau, d'un échantillon et d'un détecteur . Dans un appareil plus compliqué également un goniomètre peut être utilisé pour l'ajustement précis de l'échantillon et des positions de détecteur. Quand un détecteur de secteur est employé pour surveiller le rayonnement diffracté un beamstop est habituellement nécessaire pour arrêter le faisceau primaire intense qui n'a pas été diffracté par l'échantillon. Autrement le détecteur pourrait être endommagé. Habituellement le beamstop peut être complètement impénétrable aux rayons de x ou il peut être semi-transparent. L'utilisation du beamstop semi-transparent permet à la possibilité de déterminer combien le témoin absorbe que le rayonnement using l'intensité a observé par le beamstop.
Voir également
source de neutrons de spallation
Cristallographie
Centre international de pour les données de diffraction
Diffraction des rayons X
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