Courbe de baignoire
La courbe de baignoire de est employée couramment dans la technologie du sérieux de , bien que la notion générale s'applique également aux humains. Elle décrit une forme particulière de la fonction de risque de qui comporte trois parts :
la première partie est un taux d'échec décroissant , connu sous le nom de tôt échecs ou mortalité infantile .
La deuxième partie est un taux d'échec constant, connu sous le nom d'échecs aléatoires du .
La troisième partie est un taux d'échec croissant, connu sous le nom d'échecs de wear-out.
Le nom est dérivé de la forme en coupe du dispositif éponyme.
La courbe de baignoire est produite en traçant le taux de " tôt ; mortality" infantile ; échecs une fois d'abord présenté, le taux d'échecs aléatoires avec le taux d'échec constant pendant son " ; life" utile ; , et finalement le taux de " ; out" d'usage ; les échecs comme produit dépasse sa vie de conception.
En termes moins techniques, dans la vie tôt d'un produit adhérant à la courbe de baignoire, le taux d'échec est haut mais rapidement diminuant car des produits défectueux sont identifiés et jetés, et de premières sources d'échec potentiel telles que l'erreur de manipulation et d'installation sont surmontées. Dans le milieu de la vie d'un produit - généralement, une fois qu'il atteint des consommateurs - le taux d'échec est bas et constante. Vers la fin de la vie du produit, les augmentations de taux d'échec, comme âge et usage prennent son péage sur le produit. Beaucoup de produits de consommation reflètent fortement la courbe de baignoire, telle que les processeurs d'ordinateur.
La courbe de baignoire est souvent modelée par par morceaux réglé de trois fonctions de risque,
Tandis que la courbe de baignoire est utile, non chaque produit ou système suit une fonction de risque de courbe de baignoire.
Le " de limite ; Specification" militaire ; est employé souvent pour décrire les systèmes dans lesquels la section de mortalité infantile de la courbe de baignoire a été grillent ou enlèventes. Ceci est fait principalement pendant la vie critique ou des applications critiques de système pendant qu'il réduit sévèrement la possibilité du système échouant tôt dans sa vie. Les fabricants feront ceci à un certain coût généralement par des moyens semblables à l'essai accéléré d'effort.
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